초음파 탐사 결정은 여러 가지 요인에 의해 시간이 지남에 따라 손상 될 수 있으며, 이러한 손상은 이미지의 품질이나 탐사의 기능에 영향을 줄 수 있습니다.
초음파 탐사선 결정 손상의 흔한 원인은 다음과 같습니다.
원인:탐사선을 떨어뜨리거나, 가혹하게 다루거나, 딱딱한 표면에 부딪히거나
효과:탐사기의 내부의 결정은 균열 또는 깨질 수 있으며, 소음파를 송수신하고 수신하는 능력을 방해합니다. 균열 된 결정은 종종 신호 손실이나 이미지의 왜곡으로 이어집니다.
원인:적절한 냉각 없이 장기간 사용하거나, 고온 환경에서 탐사기를 사용하는 경우
효과:과도한 열은 피에조 전기 물질 (PZT와 같이) 을 분해하여 피에조 전기 성질을 잃게하여 초음파의 전송이 약하거나 전혀 발생하지 않습니다.과열 로 인해 결정 과 집 사이 의 결합 이 약화 될 수 도 있다, 탐사선을 더 손상시킵니다.
원인:물, 신체 액체 또는 탐사기의 가구에 침투하는 청소 물질에 노출, 특히 밀폐가 손상된 경우.
효과:수분으로 인해 전기 쇼트 쇼트 또는 결정과 내부 구성 요소의 부식, 장애로 이어질 수 있습니다. 액체가 탐사선으로 들어가면,크리스탈 또한 부풀어 오거나 변형 물질로 인해 손상 될 수 있습니다..
원인:초음파 탐사기를 과도한 전력 또는 부적절한 설정으로 사용하는 경우
효과:피에조 전기 결정 에 부과 되는 전기 전하 는 그 결정 이 진동 하게 하는 원인 이다. 전압 이 너무 높으면, 그것은 결정 을 과부하 하여 불타거나 균열 하게 할 수 있다.
원인:특정 애플리케이션에 대한 부적절한 주파수 또는 강도 설정 또는 장치가 적절히 정렬되지 않은 경우
효과:부적절한 설정은 결정에 과압을 가할 수 있습니다. 시간이 지남에 따라 열 손상이나 물리적 변형으로 이어질 수 있습니다.특히 초고 강도 또는 초고 주파수 초음파가 탐사기의 정량 이상으로 사용될 때.
원인:초음파 탐사기의 장기 사용
효과:피에조 일렉트릭 크리스탈은 특히 고주파 탐사선에서 사용됨에 따라 분해 될 수 있습니다. 물질의 특성은 진동으로 인한 지속적인 스트레스로 인해 악화되어 성능 손실로 이어질 수 있습니다.탐사선은 또한 시간이 지남에 따라 기계적 피로로 고통받을 수 있습니다초음파 사진의 품질에 영향을 미칩니다.
- 네예방 조치:
적절 한 처리: 신체적 충격 을 피 하기 위해 항상 탐사 기구 를 조심스럽게 다루십시오. 탐사 기구 를 사용하지 않을 때 보호 가면을 사용 하십시오.
정기적 인 정렬: 초음파 장치는 사용 중인 탐사기의 종류에 맞게 적절히 정렬되어 있는지 확인합니다.
과도 한 사용 을 피 하라: 과열을 방지하기 위해 휴식 없이 장시간 탐사기를 작동시키지 마십시오.
정기적 인 유지 보수 및 검사: 탐사선이 밀폐되고 손상되지 않았는지 확인하기 위해 정기 검사를 수행합니다. 습기 또는 균열의 흔적을 찾으십시오.
적절 한 보관: 사용하지 않을 때, 극한 환경 또는 신체적 손상을 피하기 위해 보호 케이스 또는 안전한 곳에 프로브를 보관하십시오.
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